Іванов Дмитро Євгенійович

Посада: старший науковий співробітник

Вища освіта:

Донецький державний університет (1995);

Кандидат технічних наук (“Обчислювальні машини, системи та мережі”, 2000);

Доцент по кафедрі “Автоматизовані системи управління” (2004);

Доктор технічних наук (“Комп’ютерні системи та компоненти”, 2013).

Науковий ступінь, звання: д.т.н., доцент

Контакти: dmitry.ivanov.iamm@gmail.com

Напрямки досліджень

еволюційні обчислення;

технічна діагностика цифрових пристроїв;

паралельні обчислення.

  1. Иванов Д.Е. Генетические алгоритмы построения входных идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов. — Донецк, 2012. — 240с.
  2. E. Ivanov, Parallel Simulation Algorithm of VLSI for Multicore Workstations with Dynamic Faults Grouping / Ivanov D.E. // International Journal of Modeling and Optimization.- Vol.6, No 3, June 2016.- Pp.166-170.
  3. Иванов Д.Е. Генетический алгоритм построения функциональных тестов арифметико-логических устройств / Ю.А. Скобцов, Д.Е. Иванов, В.Ю. Скобцов // Восточно-Европейский журнал передовых технологий.- 2014.- Том 1, №9(68).- С.9-13.
  4. Иванов Д.Е. Формальная оценка идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов // Проблемы информационных технологий.- 2014.- №1(15).- С.34-41.
  5. Иванов Д.Е. Разработка шаблонов эволюционных методов диагностирования цифровых устройств / Д.Е. Иванов // Математические машины и системы.- 2014.- №3.- С.147-157.
  6. Ivanov D.E. A New Parallel Fault Simulation Algorithm of VLSI for Multicore Workstations / Д.Е. Иванов // “Радіоелектронні і комп’ютерні системи”.- — №5(69).- С.91-95.
  7. Иванов Д.Е. Методология синтеза эволюционных алгоритмов построения идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов // “Радіоелектронні і комп’ютерні системи”.- 2013.- №5(64).- С.156-161.
  8. A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov. Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits // Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany.- pp.213-218.
  9. Ivanov D.E., Skobtsov Y.A., El-Khatib. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits // Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University, 2006.- pp.281-284.